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几个大公司的可靠性测试方案1

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2010-02-07

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几个大公司的可靠性测试方案2

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chroma电气安规测试指南

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GEM 表老化测试的计算原理和方法

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2010-02-07

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半导体器件参数退化失效分析

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2010-02-07

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电子元器件的质量等级

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GJB597A-96 半导体集成电路总规范

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LED Light Inspection checklist( detail)

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GJB 65B-99 有可靠性指标的电磁继电器总规范

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GJB128A-97 半导体分立器件试验方法.part1

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GJB128A-97 半导体分立器件试验方法.part2

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GB 11287-1989　继电器、继电保护装置振动(正弦)试验

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电源开关

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GB4798.7-2007-T 电工电子产品应用环境条件第7部分：携带和非固定使用

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GBT 17626.11-2008 电磁兼容试验和测量技术.part1

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GBT 17626.11-2008 电磁兼容试验和测量技术.part2

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QJ786-1983 集成电路筛选条件

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QJ787-1983 半导体分立器件筛选技术条件

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QJ3065.4-1998 组件筛选和复验管理要求

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录像机用3CG1321型小功率晶体管认定规范

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石英晶体管振荡器质量分等标准

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录像机用电阻质量认定规范1

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录像机用电阻质量认定规范2

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录像机用电阻质量认定规范3

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录像机用电阻质量认定规范4

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